ภาพรวมของสเปกโทรสโกปีอะตอม

การวิเคราะห์ด้วยสเปกโทรสโกปีการดูดกลืนแสงอะตอม (AAS)

การวิเคราะห์ด้วยสเปกโทรสโกปีการดูดกลืนแสงอะตอม (AAS) ทำงานโดยการวัดปริมาณพลังงานแสงอัลตราไวโอเลต/แสงที่มองเห็นได้ที่ถูกดูดกลืนโดยธาตุ ความยาวคลื่นของแสงที่ถูกดูดกลืนจะสอดคล้องกับพลังงานที่จำเป็นในการกระตุ้นอิเล็กตรอนจากสถานะพื้นฐานไปยังระดับพลังงานที่สูงขึ้น ปริมาณพลังงานที่ถูกดูดกลืนในกระบวนการกระตุ้นนี้จะเป็นสัดส่วนกับความเข้มข้นของธาตุในตัวอย่าง

สเปกโทรสโกปีการดูดกลืนแสงอะตอมด้วยเปลวไฟ (FAA)

การวิเคราะห์ด้วยสเปกโทรสโกปีการดูดกลืนแสงอะตอมด้วยเปลวไฟ (FAA) เกี่ยวข้องกับการทำให้ตัวอย่างของเหลวระเหยและเกิดการแตกตัวเป็นไอร้อนด้วยเปลวไฟ ในเทคนิคนี้ จะมีการดูดและพ่นสารละลายตัวอย่างเป็นละอองฝอยละเอียดเข้าสู่ห้องผสมเพื่อรวมกับก๊าซเชื้อเพลิงและออกซิไดซ์ ก๊าซผสมที่ได้จะถูกนำเข้าสู่หัวเผา ซึ่งเกิดการเผาไหม้และการแตกตัวเป็นไอของตัวอย่าง

สเปกโทรสโกปีการดูดกลืนแสงอะตอมด้วยเตาแกรไฟต์ (GFAA)

เทคนิคการวิเคราะห์ด้วยสเปกโทรสโกปีการดูดกลืนแสงอะตอมด้วยเตาแกรไฟต์ (Graphite Furnace Atomic Absorption Spectroscopy: GFAA) เป็นเทคนิคที่ทันสมัยและมีความไวสูงที่สุดในการประเมินการดูดกลืนแสงอะตอม ด้วยการใช้เครื่องทำอะตอมไมเซอร์แบบเตาแกรไฟต์ อะตอมจะถูกเก็บไว้ในเส้นทางแสงนานกว่าการทำให้เป็นอะตอมด้วยเปลวไฟเล็กน้อย ส่งผลให้ขีดจำกัดการตรวจวัดและความไวต่ำลงอยู่ในช่วงส่วนในพันล้าน (ppb)

สเปกโทรสโกปีการปล่อยแสงด้วยพลาสมาแบบเหนี่ยวนำ (ICP-OES)

การวิเคราะห์ด้วยสเปกโทรสโกปีการปล่อยแสงด้วยพลาสมาแบบเหนี่ยวนำ (ICP-OES) วัดแสงที่ปล่อยออกมาโดยอิเล็กตรอนที่ถูกกระตุ้นของธาตุขณะกลับสู่สถานะพื้นฐานที่เสถียร ตัวอย่างจะถูกนำเข้าสู่พลาสมาของก๊าซอาร์กอนและอุณหภูมิสูงจะกระตุ้นอิเล็กตรอนของอะตอมให้ขึ้นไปอยู่ในระดับพลังงานที่สูงขึ้น ธาตุจะถูกระบุโดยความยาวคลื่นที่เป็นลักษณะเฉพาะของแสงที่ปล่อยออกมาเมื่ออิเล็กตรอนของมันกลับสู่สถานะพื้นฐาน ความเข้มของแสงที่ปล่อยออกมานั้นมีความสัมพันธ์กับความเข้มข้นของธาตุในตัวอย่าง

สเปกโตรเมตรีมวลไอออนพลาสมาแบบเหนี่ยวนำ (ICP-MS)

สเปกโทรเมตรีมวลไอพลาสมาแบบเหนี่ยวนำ (ICP-MS) เป็นชนิดหนึ่งของสเปกโทรเมตรีมวลที่ใช้สำหรับการวัดปริมาณโลหะและสารที่ไม่ใช่โลหะต่างๆ ได้อย่างมีความไวสูงในช่วงความเข้มข้นต่ำกว่า 1 ส่วนในล้านล้านส่วน (ppt) ICP-MS วิเคราะห์ธาตุโดยการแยกธาตุในสนามแม่เหล็กตามอัตราส่วนมวลต่อประจุ (m/z) ของธาตุนั้นๆ

สเปกโทรเมทรีการเรืองแสงด้วยรังสีเอกซ์ (XRF)

สเปกโทรเมตรีการเรืองแสงด้วยรังสีเอกซ์ (XRF) ตรวจจับองค์ประกอบทางธาตุโดยการวัดความยาวคลื่นและความเข้มของรังสีเอกซ์ที่ปล่อยออกมาจากอะตอมที่มีพลังงานในตัวอย่าง ในวิธีนี้ ลำแสงรังสีเอกซ์ที่มีความยาวคลื่นสั้นจะกระทบกับตัวอย่างและทำให้อิเล็กตรอนในเปลือกชั้นในของอะตอมหลุดออกมา ก่อให้เกิดตำแหน่งว่างหรือ "รู" สิ่งนี้ทำให้อะตอมจัดเรียงการจัดวางอิเล็กตรอนใหม่ โดยอิเล็กตรอนจากเปลือกพลังงานที่สูงกว่าจะกระโดดไปเติมช่องว่างที่เพิ่งเกิดขึ้นและปล่อยแสงเอกซ์เรย์ที่มีลักษณะเฉพาะออกมาในระหว่างกระบวนการนี้ เอกซ์เรย์ที่ปล่อยออกมาจากอะตอมในระหว่างกระบวนการเรืองแสงจะถูกตรวจจับและนำไปใช้ในการระบุและวัดปริมาณตัวอย่าง